Volltext: Verzeichnis über veröffentlichtes Balzner Schrifttum und Musikpublikationen

18 197. Unsere Arthur Pfeiffer G.m.b.H.: Hauszeitschrift der Arthur Pfeiffer Vakuumtechnik GmbH[Balzers]: [Balzers AG], Nr. 1, Juli 1970->. 198. VELBAG Rundschau / [Hrsg.: Vereinigung ehemaliger Lehrlinge der Balzers AG]. - Balzers: Balzers AG. 1974->. 199. Wegmann, Lienhard. - Applying the photoemission electron microscope / by Lienhard Wegmann. In: Research/Development. July 1970, p. 20-23. 200. Wegmann, Lienhard. - Auf dem Weg zum Metall-Elektronenmikroskop / Lienhard Wegmann. In: Praktische Metallographie. Jg 5(1968), H. 5, S. 241-263. 201. Wegmann, Lienhard. - Die Untersuchung der Kristallstruktur von Festkörperoberflächen und dünnen Schichten in der Elektronenbeugungsanlage Eldigraph KD4 / von L. Wegmann. - Balzers: Balzers AG, 1968. 12 S. 202. Wegmann, Lienhard. - Photoemissions-Elektronenmikroskopie / L. Wegmann. In: Handbuch der zerstörungsfreien Materialprüfung / von E.A.W. Müller. München : Oldenbourg, 1969. 23. S. 203. Wegmann, Lienhard. - Photoemissions-Elektronenmikroskopie / von L. Wegmann. In: Mikroskopie : Zentralblatt für mikroskopische Forschung und Methodik. Bd 26(1970), H. 3/4, S. 99-110. 204. Wegmann, Lienhard. - The Photo-emission electron microscope : its technique and applications / by L. Wegmann. In: Journal of microscopy. Vol. 96(1972), pt 1, p. 1-23. 205. Wegmann, Lienhard. - Vom Metall-Mikroskop zum Metall-Elektronenmikroskop / [L. Wegmann]. - Balzers: Balzers AG, [ca 1970]. 16 S. 206. Wegmann, Lienhard; Bode, M.. - Influence of depth of information and of resolution in stereologic evaluation of surface electron micrographs / by M. Bode, ... L. Wegmann. In: Journal of microscopy. Vol. 95(1972), pt 2, p. 323-336. 207. Wegmann, Lienhard; Decosterd, J.P.; Fontana, P.V.. - Investigations of carbon residues on surface of silicon integrated circuits / P.V. Fontana, J.P. Decosterd, and L. Wegmann. In: Journal of the Electrochemical Society. Vol. 121(1974), No 1, S. 146-150. 208. Wegman, Lieni; Dannöhl, H.D.; Graber, R.. - High temperature microscopy studies / H.D. Dannöhl, R. Graber and L. Wegmann. In: Microstructures. Aug/Sept 1971. 209. Wilson, Richard W. - Deposition techniques for contacts and interconnections on integrated circuits: the invited papers of the "Gaflei-Symposium" 11.-13. October 1972 / org. by Balzers Aktiengesellschaft für Hochvakuumtechnik und Dünne Schichten ; [mit Beitr. von Richard W. Wilson ... [et al.]. - Balzers: Balzers AG, [1972]. 89 S. 210. Wir ... / Balzers. - [Balzers]: [Balzers AG], [1974]. (Nicht pag.). 211. Wir: Hauszeitschrift der Balzers Aktiengesellschaft. - Balzers: Balzers AG. 1968-1992.

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